・各種光学系に対応
　モアレ縞方式による光学歪みによる欠陥検出（最小20μm幅のアワまで検出）
　特殊な透過光によるキズ欠陥検出（最小50nm幅のキズまで検出）
　透過光と反射光の組み合わせによる表裏識別

・20μm分解能で、第8世代素板ガラスまで対応可能

・MAX：64台のラインセンサーカメラまで対応可能

・最新鋭のCPU採用と独自開発のソフトにより、高速画像処理を実現

・MAX：1GB/Sの画像処理能力により、ガラス1枚に35GBの画像処理を実現

・カメラの視野通過後5秒以内に判定処理を終了（欠陥数10個以内の場合）

・検査対象物ごとのカスタマイズ対応可能

・オンライン時に上位PLCからデータをロードし、製品別に判定基準を設定可能

・検査範囲マスク機能により対象検査範囲を設定し、検査ログファイル作成が可能

・オフライン取り込み機能にて、取り込んだ元画像より欠点部分の拡大、解析が可能

・レビュー用顕微鏡で欠陥を目視確認または自動画像処理が可能（オプション）